耳植入器的最小手术内测试电池:国际实践趋势
Isra Aljazeeri1,2, Yassin Abdelsamad3, Abdulrahman Alsanosi1
1King Abdullah Ear Specialist Center (KAESC), College of Medicine, King Saud University Medical City (KSUMC), King Saud University, PO Box 245, 11411, Riyadh, Saudi Arabia.
概括
面部神经监测,电极阻抗和电引起的复合动能电位 (ECAP) 是耳植入 (CI) 手术的关键手术内测试. 这项研究调查了专家,以确定CI程序的最低测试电池.
科学领域:
- 耳鼻喉科 耳鼻喉科 耳鼻喉科
- 神经外科 神经外科
- 生物医学工程 生物医学工程
背景情况:
- 耳植入 (CI) 手术涉及许多手术内测试.
- 缺少用于CI手术的标准化最低测试电池.
- 了解从业人员的做法和建议至关重要.
研究的目的:
- 为了调查当前在CI外科手术中的手术内测试的使用模式.
- 收集专家推的最低手术内测试电池.
- 评估从业者对各种手术内CI测试的态度.
主要方法:
- 对CI中心进行了一项多中心的国际调查.
- 34名CI从业者 (耳科专家,听力学家,工程师) 参与.
- 调查评估了测试使用情况,感知价值,决策影响和最低电池建议.
主要成果:
- 面部神经监测,电极阻抗和ECAP测量是最适合最小电池的.
- 在不同测试中,感知价值和外科决策的影响有所不同.
- 高分辨率CT在价值和决策影响方面被评为最高.
结论:
- 面部神经监测,电极阻抗和ECAP测量构成了当前CI手术内测试的核心.
- 这些测试被认为是常规CI程序必不可少的.
