980956-2246

D A Bjånes1, S Kellis2, R Nickl3

  • 1Department of Biology and Biological Engineering, California Institute of Technology, Pasadena, CA, USA.

概括

大脑机器接口中的微电极随着时间的推移而降解. 喷射氧化 (SIROF) 电极比 (Pt) 电极显示更多的物理损伤,但更好的神经记录,这表明潜在的改善长期BMI性能.

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