量化物理降解以及记录和刺激性能的980个内皮层微电极慢性植入三个人类956-2246天
D A Bjånes1, S Kellis2, R Nickl3
1Department of Biology and Biological Engineering, California Institute of Technology, Pasadena, CA, USA.
medRxiv : the preprint server for health sciences
|September 24, 2024
概括
大脑机器接口中的微电极随着时间的推移而降解. 喷射氧化 (SIROF) 电极比 (Pt) 电极显示更多的物理损伤,但更好的神经记录,这表明潜在的改善长期BMI性能.
科学领域:
- 神经科学是一个神经科学.
- 生物材料科学 生物材料科学
- 医疗工程 医学工程
背景情况:
- 脑机界面 (BMI) 的临床成功需要稳定的神经记录和刺激.
- 长期将微电极植入人体皮质带来了生物和物质上的挑战.
- 量化微电极损伤对于长期的BMI稳定性至关重要.
研究的目的:
- 量化人类皮层中长期植入的微电极的物理损伤.
- 为了将微电极降解与功能结果 (记录和刺激) 相关联起来.
- 为了比较 (Pt) 和喷射氧化 (SIROF) 电极的性能和降解.
主要方法:
- 扫描电子显微镜 (SEM) 用于从扩展的Neuroport阵列中成像980个微电极.
- 在人类皮质中长期植入 (956-2246天) 后,分析了带有Pt和SIROF电极尖端的阵列.
- 损伤指标 (尖端金属损失,分离,组织粘附,绝缘损伤) 被评估并与功能数据 (SNR,阻抗,刺激) 相比较.
主要成果:
- 与Pt电极相比,SIROF电极显示出更高的物理降解,但记录神经活动 (SNR) 的可能性是Pt电极的两倍.
- 1kHz阻抗与SIROF电极的物理损伤和性能相关,作为潜在的体内降解量.
- 在受刺激的电极上观察到一种新的降解类型 ("pockmarked");树侵蚀可能会先于尖端损伤.
结论:
- 像阻抗这样的定量测量可以预测微电极的物理状态和性能.
- 结果将微电极降解与功能结果联系起来,这对于长期的BMI使用至关重要.
- 数据可以为改善BMI寿命提供改进的制造和新型电极设计的信息.


