MOS Capacitor
MOSFET: Enhancement Mode
P-N junction
MOSFET: Depletion Mode
Biasing of Metal-Semiconductor Junctions
Biasing of FET
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Yuntao Zeng1, Ge Ma1, Han Li1
1School of Integrated Circuits, Hubei Key Laboratory for Advanced Memories, Wuhan National Laboratory for Optoelectronics, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan 430074, China.
这项研究在相变存储器 (PCM) 设备中引入了一种新的纳米电流通道 (NCC) 层. 这项创新可显著降低RESET功耗超过95%,并加速SET速度,解决通用内存应用的关键挑战.
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