动态变形测量使用2相位移光斑干扰测量,基于光斑统计和波面复杂化
Yijun Du1, Junxiang Li1, Chen Fan1
1State Key Laboratory for Manufacturing Systems Engineering, School of Mechanical Engineering, Xi'an Jiaotong University, Xi'an, Shaanxi 710049, People's Republic of China.
The Review of scientific instruments
|September 25, 2024
概括
这项研究引入了一个新的两步相位移系统,用于准确,全场变形测量粗的表面. 该方法增强了动态测量能力和可靠性,用于暂时变形分析.
科学领域:
- 光学测量 测量 光学测量
- 计量学 计量学 计量学
- 表面分析 表面分析
背景情况:
- 阶段转移斑点干扰计 (PSSI) 对于粗表面的全场变形测量至关重要.
- 现有的PSSI方法在动态测量速度和精度方面存在局限性.
- 需要强大而准确的短暂变形测量技术.
研究的目的:
- 开发一种新的双步同步相位移系统,用于增强动态变形测量.
- 为了提高相位移光斑干涉测量的准确性和稳定性.
- 为了实现精确的空间记录和短暂变形分析.
主要方法:
- 一个两步同步相移系统,使用液晶空间光调制器 (LC-SLM) 进行极化敏感相调制.
- 参考波线的多重化,以在两个独立通道中产生精确的相位移.
- 实现一个通用路径的自引用旋干扰结构,用于精确的空间注册.
- 开发一种新的两相位移算法和基于斑点统计的两步空间注册策略.
主要成果:
- 拟议的系统实现了精确的相位移和精确的空间记录.
- 这种新的算法增强了对强度和位置变化的稳定性,这是由于空间复杂化的原因.
- 精确的短暂变形测量得到了相位移光斑干扰图.
- 实验验证证明了与传统方法相比的有效性和准确性.
结论:
- 开发的双步同步相位移系统显著提高了动态变形测量准确性和稳定性.
- 该系统有效用于暂时变形分析,适用于机械和热变形.
- 这种进步为各种需要精确地监测表面变形的科学和工程应用提供了强大的工具.
