果的定量冲击损伤基于高光谱成像结合机械参数和尺寸校正
Bin Li1, Xia Wan1, Yin-Ling Liu1
1Institute of Optical-Electro-Mechatronics Technology and Application, East China Jiao Tong University, National and Local Joint Engineering Research Center of Fruit Intelligent Photoelectric Detection Technology and Equipment, Nanchang, China.
Journal of food science
|September 26, 2024
概括
这项研究引入了一种光谱校正方法,以提高水果损伤预测的准确性,并考虑尺寸变化. 该技术增强了机械参数模型,有助于检测水果质量和减少损失的策略.
科学领域:
- 农业工程 农业工程
- 频谱学是一种光谱学.
- 食品科学 食品科学 食品科学
背景情况:
- 果物损伤预测的准确性通常因尺寸差异而降低.
- 为水果质量开发强大的定量预测模型至关重要.
研究的目的:
- 开发一种光谱校正方法,以改善对水果损伤的定量预测.
- 提高机械参数模型的准确性,以评估水果质量.
主要方法:
- 选择未受损的果光谱作为参考光谱.
- 根据水果直径计算的光谱校正系数.
- 应用大小校正损坏光谱和构建机械参数模型.
- 使用竞争性自适应性重权和非信息化的变量消除算法选特征波长.
主要成果:
- 频谱纠正模型显示出更好的预测准确性.
- 相对应系数增加了2.1%-13% .
- 与调整前的模型相比,根平均平方误差减少了16%-51%.
结论:
- 尺寸校正方法有效地消除了机械参数模型上的尺寸差异效应.
- 这种方法提高了对水果的定量损害预测模型的适用性.
- 为设计减少损失的措施和农业机械化作业提供理论指导.
