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Tianyuan Wang1, Virginia Florian2, Richard Schielein2
1Centrum Wiskunde & Informatica, Science Park 123, 1098 XG Amsterdam, The Netherlands.
本研究介绍了使用深度强化学习 (DRL) 的稀疏角度X射线计算机断层扫描 (CT) 的任务适应角度选择方法. 该方法优化了用于缺陷检测的角度选择,提高了工业质量控制的效率和准确性.
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