使线

Dong Yeol Shin1,2, Yoon Jae Moon2, Byeong-Kwon Ju3

  • 1Micro/Nano System Department, Korea University, 145 Anam-ro, Seongbuk-gu, Seoul, 02841, Korea.

Scientific reports
|September 27, 2024
PubMed
概括

一种新的干扰成像方法准确地测量喷墨液滴的飞行速度,克服了制造显示器传统影子成像的局限性. 这种技术为工业应用提供了1000倍更大的测量面积和更高的重复性.

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