Subhajit Pal1, Emanuele Palladino1, Haozhen Yuan1

  • 1School of Engineering & Materials Science, Queen Mary University of London, London E1 4NS, United Kingdom.

ACS applied electronic materials
|September 30, 2024
PubMed
概括

这项研究提出了一种新方法,使用压响应力显微镜 (PFM) 准确测量铁电性质. 通过结合切换光谱-PFM和凯尔文探针力显微镜,可以获得无工件的电力学数据,以获得可靠的纳米尺度表征.