Alejandro Mateos-Canseco1,2, Andrzej Kusiak1,2, Jean-Luc Battaglia1,2

  • 1University Bordeaux, CNRS, Bordeaux INP, I2M, UMR 5295, F-33400 Talence, France.

概括

扫描光热辐射仪有效地拍摄了亚微米裂的图像. 该方法量化了热性能和裂纹尺寸,为微缺陷分析提供了精确的材料表征.