使用峰值对卫星比率对Co-Ni氧化化合物表面的XPS研究. 适用于Co20Ni80被动层结构和组成的应用
Barbara Laïk1, Morgane Richet1, Nicolas Emery1
1University Paris Est Créteil, CNRS, ICMPE, UMR 7182, 2 rue Henri Dunant, Thiais 94320, France.
本研究提出了一种分析和氧化化合物的X射线光电谱 (XPS) 数据的新方法. 开发的技术准确地确定了合金被动化层的化学成分,这对于理解抗腐蚀性质至关重要.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 表面化学 表面化学
- 分析化学 分析化学
背景情况:
- 对和核心水平峰值的X射线光电谱 (XPS) 数据处理是复杂的,特别是对于混合的氧化物/氧化/化合物.
- 了解合金的表面化学作用对于预测和增强其抗腐蚀性质至关重要.
研究的目的:
- 开发一种强大的方法来分解2p核心水平的XPS光谱,用于和氧化化合物.
- 应用这种方法来分析Co20Ni80合金的被动化层.
主要方法:
- 开发一种自制的代码,利用核心级峰值结构和卫星进行XPS光谱分解.
- 应用XPS分析与顺序离子喷雾相结合.
主要成果:
- 开发的方法成功确定了Co20Ni80合金表面层的化学成分.
- XPS分析揭示了一种异质的被动层,由氧化或氧化化合物组成.
- 发现化学异质与被动层的厚度异质相关.
结论:
- 新的XPS数据处理方法对于分析复杂的氧化金属化合物是有效的.
- Co20Ni80合金的被动化层表现出显著的化学和厚度异质性.
- 这种详细的表面分析为合金的抗腐蚀行为提供了关键的见解.
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