The Electrical Double Layer
Electronic Distance Measuring Instruments
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Updated: May 1, 2026

Lensless Fluorescent Microscopy on a Chip
Published on: August 17, 2011
Shengzi Zhao1, Le Shen2, Katsuyuki Taguchi3
1Department of engineering physics, Tsinghua University, Shuangqing department, Beijing, 100084, CHINA.
本研究引入了一种深度学习方法,以补偿光子计数探测器 (PCD) 中使用多能互像素巧合计数器 (MEICC) 的电荷共享. 该方法显著提高了虚拟单色衰减积分 (VMAI) 估计准确度,在计算机断层扫描 (CT) 成像中表现优于传统PCD.
科学领域:
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主要成果:
结论: