使用光学相干断层扫描对中视网膜神经轴损失的纵向评估
Livia Stauner1, Han Bao2,3, Luisa Delazer1
1Epilepsy Center, Department of Neurology, LMU University Hospital, LMU Munich, Munich, Germany.
Epilepsia
|October 9, 2024
概括
患者呈现逐渐的视网膜神经轴损失,即使在短期研究中也可以检测到. 大量的抗发作药物可能会加快这种损失,强调需要谨慎的治疗策略.
科学领域:
- 神经科学是一个神经科学.
- 眼科医生 眼科 眼科
- 神经学 神经学
背景情况:
- 与渐进性脑缩有关.
- 这种缩表现为视网膜中的神经轴损失.
- 视网膜成像为观察神经系统变化提供了一个潜在的窗口.
研究的目的:
- 研究患者视网膜神经轴损失的纵向变化 (PwE).
- 在PwE中确定视网膜神经轴损失的潜在驱动因素.
- 提供初步了解中视网膜神经退行变化的动态.
主要方法:
- 用光谱域光连贯性断层扫描 (SD-OCT) 来评估PWE和健康对照组 (HC) 的视网膜层.
- 测量包括周周毛囊视网膜神经纤维层 (pRNFL),黄斑RNFL (mRNFL),状细胞内层 (GCIP) 和总黄斑体积 (TMV).
- 计算了年均百分比变化 (APC),统计模型确定了与临床参数的关联.
主要成果:
- 在研究期间,PwE在pRNFL,mRNFL,GCIP和TMV厚度/体积上显著下降.
- 与HC相比,普华永道的pRNFL和GCIP的APC在普华永道显著更高.
- 在mRNFL中的缩与抗发作药物 (ASM) 的数量和PWE年龄的增加有关.
结论:
- 在中,渐进性视网膜神经轴损失在短时间的随访期间可以检测到.
- 较多的ASM可能与PWE中加速的神经轴损失有关.
- 有效和明智的抗发作治疗对于管理中神经轴损失至关重要.
