使X线

Johan Bylin1, Vassilios Kapaklis1, Gunnar K Pálsson1

  • 1Division of Materials Physics, Department of Physics and Astronomy, Uppsala University, Box 516, 75 121Uppsala, Sweden.

Journal of applied crystallography
|October 10, 2024
PubMed
概括

对薄无形薄膜 (低至80 nm) 的精确对分布函数可以使用单个X射线衍射扫描来获得. 这种方法最大限度地减少了基板和空气的散射,使纳米级材料的精确结构分析成为可能.