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Updated: May 4, 2026
16:11
Implementation of a Reference Interferometer for Nanodetection
Published on: April 26, 2014
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使用双色光纤干扰仪测量电子和中性粒子密度
Tao Lan1, Zeqi Bai1, Han Zhang1
1Department of Plasma Physics and Fusion Engineering, University of Science and Technology of China, Hefei 230026, China.
The Review of scientific instruments
|October 11, 2024
概括
一种新的双色光纤干扰仪准确地测量了等离子体中的电子和中性粒子密度. 这种进步简化了电子密度测量,通过显示中性粒子的影响在更长的波长上是可以忽略不计的.
科学领域:
- 血物理学的等离子体物理学
- 光学干涉测量是一种光学干涉测量.
- 激光诊断仪器 激光诊断仪器
背景情况:
- 高密度等离子体设备,如泰达机,需要精确的密度测量,用于研究和开发.
- 现有的诊断方法在同时解析电子和中性粒子密度方面可能存在局限性.
研究的目的:
- 开发和验证一种双色均的马赫-泽恩德光纤干扰仪,用于同时测量电子和中性粒子密度.
- 为了研究中性粒子对不同波长的电子密度测量的影响.
主要方法:
- 使用了一种双色均的马赫-泽恩德干扰仪,在1310nm和1550nm运行.
- 在离散波长的电子和中性粒子的杆差异折射率贡献.
- 测量了线整合电子和中性子密度在theta-pinch装置中的时间演变.
主要成果:
- 成功测量了线整合电子和中性子密度的时间演变.
- 证明中性粒子密度的影响对于使用长波长激光器进行电子密度测量是可以忽略不计的.
- 在theta-pinch装置中建立了最大电子密度和电容器银行电压 (5-9kV) 之间的线性相关性.
结论:
- 开发的双色干扰仪可以同时测量电子和中性粒子密度.
- 基于长波长激光的测量可以通过最小化中性粒子干扰来有效地隔离电子密度.
- 证实光纤干涉计在高密度设备中的等离子体诊断中的实用性.
