开发用于ToF-SIMS光谱的标识系统,使用监督机器学习

Satoka Aoyagi1, Miya Fujita2, Hidemi Itoh3

  • 1Faculty of Science and Technology, Seikei University, Musashino, Tokyo 180-8633, Japan.

概括

一个新的机器学习系统改进了从飞行时间二次离子质谱 (ToF-SIMS) 数据的鉴定. 通过结合相邻的氨基酸信息,它可以准确预测序列,帮助分析复杂的有机材料.