重结晶对的稳定性的影响扫描道显微镜尖端扫描道显微镜尖端
R Griffin1, H J Chandler2, S Rubanov3
1Department of Mathematical and Physical Sciences, School of Computing, Engineering and Mathematical Sciences, La Trobe University, Bundoora 3086, VIC, Australia.
The Review of scientific instruments
|October 16, 2024
概括
由再结晶的钢线制成的扫描道显微镜尖端显示出更大的单晶域和更好的电子发射稳定性. 高温回火显著提高了尖端的稳定性.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 表面科学是一门学科.
- 电子显微镜电子显微镜
背景情况:
- 扫描道显微镜 (STM) 依赖于精确设计的尖端,用于高分辨率成像.
- STM尖端的性能和稳定性对于可靠的表面分析至关重要.
- 由于其有利的电子和机械性能,尖通常被使用.
研究的目的:
- 为了研究STM尖端的结构和电子排放特性.
- 为了比较从多晶体中电化学蚀刻的尖端与再结晶的线.
- 为了评估退火对在高电场下尖端稳定性的影响.
主要方法:
- 电化学蚀刻的线 (多晶和再结晶).
- 扫描电子显微镜 (SEM) 用于结构分析.
- 传输电子显微镜 (TEM) 用于详细的微观结构检查.
- 测量现场排放以评估尖端稳定性.
主要成果:
- 再结晶的线产生了与多晶线相比较大的单晶域的尖端.
- 从再结晶的电线中雕刻的尖端在高电场下表现出增强的稳定性.
- 在超高真空中进行高温回火,显著提高了两种尖端类型的稳定性.
结论:
- 使用再结晶的线有利于制造更稳定的STM尖端.
- 尖端微观结构,特别是域大小,影响稳定性.
- 制造后回火是优化STM尖端性能和寿命的关键步骤.
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