用X射线静电波和光电子光谱学探测的铁电薄膜的表面极化概况

Le Phuong Hoang1,2,3, Irena Spasojevic4, Tien-Lin Lee5

  • 1European XFEL, 22869, Schenefeld, Germany.

Scientific reports
|October 16, 2024
PubMed
概括

这项研究揭示了X射线静电波如何在铁电薄膜中探测表面极化. 表面吸附剂影响局部极化,为控制铁电材料提供了洞察力.