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Young Jin Jeong1, Do Gyeom Jeong1, Hwiin Ju1
1Department of Physics and Photon Science, Gwangju Institute of Science and Technology (GIST), Gwangju, 61005, Republic of Korea.
我们开发了SHG衍光测量技术来分析多铁La-doped BiFeO3薄膜. 这种方法揭示了多域铁性材料中的电极化细节.
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主要成果:
结论: