患有非综合征性口唇裂的儿童的中央听觉处理能力:一项电生理学研究
Deepshikha Kujur1, Chandni Jain1
1Department of Audiology, All India Institute of Speech and Hearing, Mysuru, Karnataka, India.
概括
患有非综合征裂口唇 (NSCLP) 的儿童表现出异常的听觉脑干反应 (ABR),双耳交互组件 (BIC) 和听觉迟延反应 (ALLR),表明他们患有中央听觉处理障碍的风险更高.
科学领域:
- 儿科听力学 儿科听力学
- 神经科学是一个神经科学.
- 遗传学 遗传学 是一个
背景情况:
- 非综合症口唇裂 (NSCLP) 是一种常见的先天性疾病.
- 患有NSCLP的儿童的中央听觉处理能力尚未完全理解.
研究的目的:
- 为了比较NSCLP与对照儿童的中央听觉处理能力.
- 调查电生理学测试在评估NSCLP中的听觉处理中的有用性.
主要方法:
- 对30名儿童 (7-15岁) 的电生理学评估,使用NSCLP和面典型对照.
- 评估了听觉脑干反应 (ABR),双耳交互组件 (BIC),听觉迟延反应 (ALLR) 和P300.
主要成果:
- 患有NSCLP的儿童表现出偏差的ABR,BIC和ALLR.
- 两组之间没有发现P300的显著差异.
结论:
- 患有NSCLP的儿童可能患有中央听觉处理障碍的风险增加.
- 电生理学测试对于评估NSCLP听觉通路中的神经传输有价值.
