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Jean Commère1, Marie Glanc1, Laurent Bourdieu2
1Observatoire de Paris, LESIA, 5 place Jules Janssen, 92195 Meudon cedex, France.
适应光学 (AO) 通过纠正异常来改善厚组织中的显微镜图像质量. 这项研究测量了对AO至关重要的异平面点尺寸,发现它为20μm,独立于样品厚度.
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