动态X射线连贯衍射分析:弥合成像和光子相关谱之间的时间尺度

Gerard N Hinsley1, Fabian Westermeier1, Bihan Wang1,2

  • 1Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY, Notkestr. 85, Hamburg 22607, Germany.

Nano letters
|October 18, 2024
PubMed
概括

同时使用连贯X射线衍射成像 (CXDI) 和X射线光子相关谱 (XPCS) 允许对纳米粒子布朗运动和聚合进行详细的实地研究. 这种综合方法实现了22 ms的时间分辨率,用于动态材料分析.