非静电测量促进了厚型和紧型CsPbBr3薄膜的无溶剂再结晶,用于实时动态X射线成像

Jian Wang1,2, Shanshan Yu1,2,3, Handong Jin1,2

  • 1Institute of Biomedical Engineering, Shenzhen Bay Laboratory, Shenzhen, Guangdong, 518107, China.

概括

一种新的非静态测量方法使高质量的化 (CsPbBr3) 矿膜在低温下形成,用于先进的X射线探测器. 这种方法显著提高了探测器性能,并使实时X射线成像成为可能.