关于使用反射极化光学显微镜快速比较P3HT的晶度和相分离:PCBM薄膜
Rawan A Alzahrani1, Nisreen Alshehri1,2, Alaa A Alessa1
1Physical Sciences and Engineering Division (PSE), KAUST Solar Center (KSC), King Abdullah University of Science and Technology (KAUST), Thuwal, 23955-6900, Kingdom of Saudi Arabia.
Macromolecular rapid communications
|October 21, 2024
概括
反射偏光光学显微镜 (POM) 快速评估聚合物:富勒烯混合薄膜. 该技术有效地测量晶度和相分离,这对于自动化光电子设备制造至关重要.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 有机电子 有机电子
- 光学物理学的光学物理学
背景情况:
- 自动化光电子设备制造需要快速,非破坏性的方法来评估薄膜特性.
- 有机半导体混合物的结晶度和相分离度显著影响设备性能.
研究的目的:
- 证明反射偏光显微镜 (POM) 是一种快速,非破坏性的技术,用于表征聚合物:富勒烯混合薄膜.
- 确定反射POM在确定相对结晶度和相位分离度方面的能力.
主要方法:
- 使用特定配置的反射偏光光学显微镜 (POM) (科勒照明,±3°不交叉的偏光器) 来增强对比度.
- 相对应的POM图像对比度与聚合物晶度和相分离的定量测量.
主要成果:
- 与聚合物:富勒烯薄膜的传输几何相比,反射POM提供了3倍的对比度.
- POM图像对比度直接与聚合物晶度和相分离相关.
- 在POM图像中,独立于表面地形学,识别了破坏对称性的液晶相作为域的起源.
结论:
- 反射POM是一种可行的快速诊断工具,用于在自动化光电子设备制造中的在线监控.
- 该技术提供了一种敏感的方法,用于评估有机半导体混合物的关键材料特性.
- 优化的反射POM配置增强了对比度,用于准确的材料表征.


