在热应力的影响下,MEMS薄膜设备参数的变化

Xiao Wen1,2, Jinchuan Chen1,2, Ruiwen Liu3

  • 1School of Information Engineering, Southwest University of Science and Technology (SWUST), 59 Qinglong Road, Mianyang 621010, China.

Micromachines
|October 26, 2024
PubMed
概括

热应力显著影响薄膜结构的MEMS设备. 这项研究表明,重复的热负荷会导致薄膜变形并降低共振频率,可能导致设备故障.