微门的空气泄漏:压力衰减测量和Knudsen流的扩展连续模型

Daniel Anheuer1, Johannes Schwarz1, Patrick Debera1

  • 1Fraunhofer Institute for Electronic Microsystems and Solid State Technologies, 80686 Munich, Germany.

Micromachines
|October 26, 2024
PubMed
概括

这项研究引入了一种新的,低成本的测试装置,用于使用压力衰变方法准确测量低气体泄漏率. 这些发现显示了改进的流量模型,用于预测微的性能,这对于门工程至关重要.