Brian M Wells1, Joseph F Tripp2, Nicholas W Krupa3

  • 1Department of Physics, University of Hartford, West Hartford, CT 06117, USA.

PubMed
概括

这项研究引入了一种新的超表面传感器,用于测量材料折射率 (1-3). 该设备使用角度测量来准确确定材料特性,为现有方法提供了更简单的替代方案.