2D与3D相似的MXene薄膜的电气行为:在厚度,层间合和缺陷作用中的弱定位的洞察力

Sophia Tangui1, Simon Hurand1, Rashed Aljasmi1

  • 1Institut Pprime, Université de Poitiers, CNRS, ISAE-ENSMA, 11 Bd M. P. Curie, Chasseneuil-du-Poitou, 86360, France.

概括

在碳化 (Ti3C2Tx) 中的弱局部化 (WL) 薄膜随着厚度的增加从2D过渡到3D. 结构因素,如薄片间合和缺陷显著影响这种电子传输机制.