用扩散张力成像测量治疗对儿科后瘤幸存者的记忆功能的影响
Fatima Tensaouti1, Germain Arribarat2, Bastien Cabarrou3
1Radiation Oncology Department, Oncopole Claudius Regaud- Institut Universitaire du Cancer de Toulouse-Oncopole, Toulouse, France; ToNIC, Toulouse NeuroImaging Center, Université de Toulouse, Inserm, UPS, France.
概括
儿科后腔瘤幸存者,特别是那些被辐射的人,显示大脑结构损伤影响记忆力. 扩散张力成像 (DTI) 度量可能作为这些患者内存缺陷的生物标志物.
科学领域:
- 神经成像是一种神经成像.
- 儿科瘤学 儿科瘤学
- 神经心理学 神经心理学
背景情况:
- 儿科后瘤 (PFTs) 对大脑结构和认知功能构成长期风险.
- 了解PFT治疗对大脑完整性的影响对于幸存者护理至关重要.
研究的目的:
- 研究PFT治疗对幸存者的大脑结构完整性和记忆功能的长期影响.
- 确定扩散张力成像 (DTI) 是否可以作为PFT幸存者记忆障碍的生物标志物.
主要方法:
- 一项前性研究包括60名参与者:22名受辐射的PFT幸存者,17名未受辐射的PFT幸存者和21名健康对照.
- 参与者接受了记忆测试和多模式MRI,包括DTI.
- 从与记忆相关的大脑结构中提取了平均扩散度和微分异型度值,用于分析.
主要成果:
- 与非辐射幸存者和对照者相比,被辐射的PFT幸存者表现出明显更高的DTI指标.
- 经过PFT的幸存者,特别是被辐射的人,记忆测试得分明显较低.
- DTI指标与记忆测试分数和放射治疗剂量相关,表明微观结构损伤.
结论:
- 经过PFT的幸存者,特别是那些接受了辐射的人,在与记忆相关的大脑区域表现出微观结构损伤.
- 扩散张力成像 (DTI) 度量显示了在儿童PFT幸存者中识别记忆缺陷的生物标志物的潜力.
