使用SEM成像和先进的深度学习进行Pd/C纳米颗粒的形态分析

Nguyen Duc Thuan1, Hoang Manh Cuong1, Nguyen Hoang Nam1

  • 1School of Electrical and Electronic Engineering, Hanoi University of Science and Technology Hanoi Vietnam thuan.nguyenduc1@hust.edu.vn hong.hoangsy@hust.edu.vn.

RSC advances
|November 6, 2024
PubMed
概括

本研究介绍了一种深度学习方法,用于使用扫描电子显微镜 (SEM) 图像分析碳 (Pd/C) 纳米颗粒上的. 该方法准确地检测和聚类纳米粒子,揭示了对其形态和分布的关键见解.