通过电磁断层扫描对透性缺陷分布的成像,使用混合L1规范和核规范惩罚条款

Xianglong Liu1, Kun Zhang1, Ying Wang2

  • 1School of Electrical and Information Engineering, Zhengzhou University of Light Industry, Zhengzhou 450002, China.

概括

这项研究引入了一种用于磁性材料的新型电磁断层扫描 (EMT) 成像方法. 新方法提高了图像质量和强度,用于在具有挑战性的材料中进行导电分布.