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Jiucheng Nie1,2,3,4, Yukun Wang1,2,3,4, Dacheng Wang1,2,3,4
1Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences, Changchun 130033, China.
这项研究引入了一种新的方法,用于同时测量光学薄膜厚度,曲率和缺陷,使用光谱域光学连贯性断层扫描 (SD-OCT). 这一进步提高了光学元件质量测试的高精度和效率.
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结论: