线线:,,

Chrysanthi Angelaki1, Aris Tsolis1, Sofia Bakogianni1

  • 1Institute of Informatics and Telecommunications, NCSR "Demokritos", 15341 Athens, Greece.

PubMed
概括

本研究引入了一种新的方法来测量嵌输电线路 (TL) 的损失,重点关注"纯"损失. 研究结果揭示了密度,线类型和连接方法如何影响TL性能和导电性.