X线

Optics express
|November 14, 2024
PubMed
概括

一种新的直接检测方法增强了暗场X射线显微镜 (DFXM) 对硬X射线的检测. 这一进步大大缩短了像量子材料这样的弱衍射材料的成像曝光时间.