用s-SNOM结合多个探针点击波器进行复杂的电容度测量的校准方法

Optics express
|November 14, 2024
PubMed
概括

这项研究引入了一种改进的黑盒校准,用于散射式扫描近场光学显微镜 (s-SNOM). 该方法通过考虑探针触摸和背景噪声,准确地提取材料特性.