绿色合成纳米粒子的有机残留物与电阻切换行为之间的相关性
Trung Bao Ngoc Duong1,2,3,4, Phu-Quan Pham1,2, Anh Thuy Tran1,2
1Faculty of Materials Science and Technology, University of Science Ho Chi Minh City Vietnam vhnam@hcmus.edu.vn phamkngoc@hcmus.edu.vn.
RSC advances
|November 14, 2024
概括
绿色合成的氧化纳米粒子 (ZnO NPs) 显示出稳定的电阻切换. 较高的回火温度减少有机残留物,通过降低电子传输的能量障碍来提高设备性能.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 纳米技术 纳米技术
- 固态电子 固态电子
背景情况:
- 氧化纳米颗粒 (ZnO NPs) 是多功能材料,在电子领域具有应用.
- 通过合成和化控制纳米粒子特性对于设备性能至关重要.
- 绿色合成方法为纳米材料生产提供了可持续的替代方案.
研究的目的:
- 研究热温度对绿色合成 ZnO NPs 的特性的影响.
- 为了评估基于这些ZnO NP的内存设备的性能.
- 了解有机残留物,氧气间位物和电阻切换特征之间的相关性.
主要方法:
- 使用梨种子提取物合成ZnONP.
- 纳米颗粒在400°C至800°C的温度下被冷却.
- 记忆器件 (Ag/ZnO/FTO) 的制造和特征是电阻开关特性.
主要成果:
- 纳米粒子形态从多面体转变为球形,火温度 (400-800°C) 增加.
- 颗粒大小从42nm增加到128nm.
- Ag/ZnO@400/FTO装置显示稳定的电阻切换 (>100周期,~150电阻窗口),而ZnO@600和ZnO@800装置则降解.
- 氧的间歇度随着火温度的升高而下降,与设备稳定性的提高相关.
结论:
- 化温度显著影响ZnO NP的形态,尺寸和有机残留含量.
- 在更高的回火温度下减少的氧气间位物增强了基于ZnO的电阻切换记忆装置的稳定性.
- 绿色合成的ZnONP为开发稳定高效的电子记忆器件提供了一个有前途的途径.
