Leifeng Zhang1, Muhammad Hamid Raza2, Rong Wu2,3

  • 1CEMES, Université de Toulouse, CNRS, 29 rue Jeanne Marvig, Toulouse Cedex, 31055, France.

概括

这项研究量化了纳米电容器的接口上被困的电荷,使用操作式离轴电子全息. 这些发现揭示了被困电荷的高密度,显著影响了设备的电气行为.