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Chen Yu1,2, Ying Liu1, Linhan Li1,2
1Changchun Institute of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Academy of Sciences, Changchun 130033, China.
一种新的深度探测方法使用半环形光束对透明样品进行高分辨率成像. 这种技术实现了优异的横向分辨率 (0.68微米) 和聚焦精度 (0.60微米),减少了干扰,以便进行详细的观察.
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