铁电Al的热特性1-BN用于非易失性存储器
Kyuhwe Kang1, Joseph A Casamento2, Daniel C Shoemaker1
1Department of Mechanical Engineering, The Pennsylvania State University, University Park, Pennsylvania 16802, United States.
ACS applied materials & interfaces
|November 28, 2024
概括
替代化 (Al1-BN) 由于其热稳定性,对铁电记忆 (FeRAM) 显示出希望. 然而,其低导热率可能会在运行过程中引起显著的自我加热,从而可能限制设备的性能.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 固态物理 固态物理
- 电气工程 电气工程
背景情况:
- (B) 替代的氏化 (Al1-BN) 是一种新的铁电材料,有可能用于先进的记忆应用.
- 与Hf1-ZrO2和PbZr1-TiO3等传统铁电相比,Al1-BN提供了较低的生长温度和稳定的极化.
- 由于强制场和残余极化较高,石铁电可能会出现增加的自我加热,这对设备可靠性构成了挑战.
研究的目的:
- 为了研究基于Al1-B的铁电非挥发性随机访问存储器 (FeRAM) 设备中的自我加热效应.
- 了解组成对Al1-B薄膜的导热率的影响.
- 在运行条件下分析基于Al1-BN的FeRAM中的短暂热反应和温度升高.
主要方法:
- 实验测量Al1-BN薄膜中的热导率,其成分不同 (x).
- 微拉曼温度计用于研究Al0.93B0.07N金属-铁电-金属 (MFM) 电容器的短暂热反应.
- 设备热建模和模拟以验证实验结果并预测在GHz频率切换下的性能.
主要成果:
- 随着含量的增加,Al1-B薄膜的导热率显著降低,从40.9W m-1 K-1降至4.35W m-1 K-1随着B组成 (x) 从0增加到0.18.
- 实验和模拟结果表明,5纳米Al1-BFeRAM设备在GHz频率上运行的潜在温度升高超过150°C.
- 在FeRAM阵列中的热交叉声进一步加剧了自我加热,导致预测的稳定状态温度上升,比单个单元中高出一个数量级.
结论:
- 随着含量增加,Al1-BN的导热率大幅降低是FeRAM自热的关键因素.
- 基于Al1-BN的FeRAM中的高工作频率和热交叉声可以导致显著的温度升高,可能会影响设备的可靠性和性能.
- 需要进一步的研究,以减轻自我加热效应,以便在高密度,高速FeRAM中实际实施Al1-B.N.
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