使X线.

Shinnosuke Kurimoto1, Takato Inoue1,2, Hitoshi Aoto1

  • 1Department of Materials Physics, Graduate School of Engineering, Nagoya University, Furo-cho, Chikusa-ku, Nagoya, Aichi, 464-8603, Japan.

Scientific reports
|November 29, 2024
PubMed
概括

我们开发了一种新的多盲解卷技术,用于X射线显微镜. 这种方法使用未经训练的神经网络和旋转样本来实现34nm的空间分辨率,克服了现有的解卷方法的局限性.