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Updated: Jun 5, 2025
16:11
Implementation of a Reference Interferometer for Nanodetection
Published on: April 26, 2014
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在芯片上的波长分割复杂化,采用在绝缘体上的酸和酸合剂薄膜上制造的角度多模干扰仪
Jinli Han1,2, Rui Bao1,2, Rongbo Wu2
1State Key Laboratory of Precision Spectroscopy, East China Normal University, Shanghai 200062, China.
Nanophotonics (Berlin, Germany)
|December 5, 2024
概括
研究人员开发了一种低损失的波长分割多重复合器,使用被的薄膜尼酸盐. 该设备集成了宽带光子电路的基本过和多重复合,从而实现了高效的光信号处理.
科学领域:
- 光子学和材料科学 材料科学
- 集成光学 集成光学 集成光学
- 光电学是指光电子产品.
背景情况:
- 在绝缘体上的基酸 (Er-TFLN) 对于光子集成电路至关重要,使波导放大器和微激光器成为可能.
- 这些设备的宽带运行需要集成的波长过器和多重复合器,以实现高效的信号管理.
- 现有的集成方法在实现低损失和精确波长选择性方面面临挑战.
研究的目的:
- 在Er-TFLN.上演示一个低损失的波长分割多重处理器 (WDM).
- 将离子 (∼1480 nm 和 1530 1560 nm) 的共振送和发射波长集成到单个芯片上.
- 为了研究WDM的性能和可调性,用于先进的光子应用.
主要方法:
- 使用光刻光学辅助化学机械蚀刻制造Er-TFLN.
- 设计和实施一个角度的多模干扰仪 (MMI) 用于波长分割复杂化.
- 插入损失,3dB带宽和光传播的表征,使用可见上转换光.
主要成果:
- 实现了低损失的WDM,最小的芯片内插入损失<0.7dB,无论是送波长还是发射波长.
- 在电信C频段测量了超过20nm的3dB带宽.
- 通过离子上转换光成功可视化了MMI模式,与模拟良好相关.
结论:
- 开发的角度MMI WDM是将波长过和多重化集成到Er-TFLN光子电路中的可行解决方案.
- 该设备提供低损耗和宽带宽,适用于宽带应用.
- 结构设计允许光谱调整,为各种光子集成电路设计提供灵活性.
