二次离子质谱方法用于测量纳米结构核心的光纤中的扩散范围

Paweł P Michałowski1, Dariusz Pysz1, Marcin Franczyk1

  • 1Łukasiewicz Research Network - Institute of Microelectronics and Photonics, Aleja Lotników 32/46, 02-668, Warsaw, Poland.

Small methods
|December 9, 2024
PubMed
概括

二次离子质谱学准确地绘制了纳米结构光纤中的离子分布. 这种方法揭示了离子扩散,这对于设计先进的光纤材料至关重要.