基于碳的外层的硬盘介质的腐蚀检查,采用液体内开环电潜显微镜
Kaito Hirata1, Jun-Ichi Omi2, Daiki Taniguchi2
1Institute for Frontier Science and Initiative, Kanazawa University, Kakuma-machi, Kanazawa 920-1192, Japan.
ACS applied materials & interfaces
|December 10, 2024
概括
开放循环电位显微镜 (OL-EPM) 检测硬盘介质碳覆盖层中的纳米级缺陷. 这种更快的方法可以在物理变化发生之前识别腐蚀问题,与传统测试不同.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 腐蚀科学 腐蚀科学
- 纳米技术 纳米技术
背景情况:
- 对于硬盘驱动器来说,带有碳覆盖 (COC) 的硬盘介质 (HDM) 是非常重要的.
- 传统的热/湿腐蚀试验耗时,缺乏局部数据.
- 现有的方法难以检测COC的早期缺陷.
研究的目的:
- 评估开环电位显微镜 (OL-EPM) 用于检查HDM的腐蚀耐用性.
- 评估OL-EPM在碳上层 (COC) 中检测纳米尺度缺陷的能力.
- 将OL-EPM的效率与传统的腐蚀测试方法进行比较.
主要方法:
- 使用基于原子力显微镜 (AFM) 的OL-EPM进行潜在测量.
- 在稀释酸 (HNO3) 中观察到具有不同COC厚度的HDM表面.
- 进行了时间依赖和高分辨率的OL-EPM成像.
主要成果:
- OL-EPM成功检测了纳米级的COC缺陷,通过识别由于暴露的HDM阳极溶解而增加的局部潜力.
- 缺陷检测发生在腐蚀产品形成的地形变化之前.
- 在约3小时内,OL-EPM发现了缺陷.
结论:
- OL-EPM是一种快速有效的技术,用于检测HDM的碳覆盖层中的纳米级缺陷.
- 这种方法提供了对局部腐蚀机制的洞察.
- 与传统的热/湿测试 (3-4天) 相比,OL-EPM显著缩短了检查时间.
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