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Kaito Hirata1, Jun-Ichi Omi2, Daiki Taniguchi2

  • 1Institute for Frontier Science and Initiative, Kanazawa University, Kakuma-machi, Kanazawa 920-1192, Japan.

PubMed
概括

开放循环电位显微镜 (OL-EPM) 检测硬盘介质碳覆盖层中的纳米级缺陷. 这种更快的方法可以在物理变化发生之前识别腐蚀问题,与传统测试不同.