Chirality
Properties of Fourier series II
Symmetric Member in Bending
Perpendicular-Axis Theorem
Dual Nature of Electromagnetic (EM) Radiation
您也可能阅读
通过共同作者、期刊和引用图与本文相关的文章。
Sudhir K Saini1, Evangelos Marakis1,2, Kayleigh Start1
1MESA+ Institute for Nanotechnology, <a href="https://ror.org/006hf6230">University of Twente</a>, The Netherlands.
我们研究了镜对称介质中的光散射. 结果显示极化依赖的强度变化,在防伪技术中具有潜在的应用.
科学领域:
背景情况:
研究的目的:
主要方法:
主要成果:
结论: