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Rohan Banerjee1, Rakhshanda Mujib2, Prayas Sanyal3

  • 1Jadavpur University, Kolkata, India. ban.rohan@yahoo.co.in.

概括

一个新的框架Pan-Ret,使用异常检测和支持矢量机 (SVM) 准确检测 fundus 图像中的视网膜异常. 这种方法提高了各种眼病的早期诊断,提高了临床可扩展性.

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