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1Department of Electronics Engineering, Hankuk University of Foreign Studies, Gyeonggi-do, Yongin-si 17035, Republic of Korea.
这项研究引入了一种新的双层平板探测器 (DFD) 在放射学中的两步注册方法. 该方法显著提高了侦探量子效率 (DQE),提高了诊断准确度,特别是在低辐射剂量下.
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