在Rutile TiO2110) /0.1 M HCl接口使用环境压力XPS电化学的操作表征

Jiangdong Yu1, Conor Byrne2,3, Jameel Imran1

  • 1London Centre for Nanotechnology and Chemistry Department, University College London, 20 Gordon Street, London WC1H 0AJ, U.K.

概括

环境压力X射线光电谱学揭示了应用的电位显著改变了TiO2 () 的接口与HCl. 表面的化物覆盖面随着潜在的变化而变化,与碳物种发生反应.