MoSe2

Qin Zhang1,2, Siyuan Zhang1,2, Brent A Sperling3

  • 1Theiss Research, La Jolla, CA, USA.

Journal of electronic materials
|December 19, 2024
PubMed
概括

这项研究测量了单层MoSe2在Al2O3/Si和SiO2/Si上的电子能量带对齐,使用内部光发射光谱学. 结果为设计先进的二维电子和光电子设备提供了关键的电子亲和值.