亚特拉斯-地图:为封闭式电子运输测量提供自动化测试站
Amber Walton1,2, Michael Manno1, Paul J Dauenhauer1,2
1Department of Chemical Engineering and Materials Science, University of Minnesota, 421 Washington Ave. SE, Minneapolis 55455, Minnesota, United States.
ACS measurement science au
|December 23, 2024
概括
我们开发了一个低成本的自动化测试站,ATLAS-MAP,用于快速测试电子设备. 这种系统可促进制造选择与场效应晶体管性能之间的快速相关性.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 电气工程 电气工程
- 设备物理 设备物理
背景情况:
- 越来越多的电子材料需要有效的方法来将设备制造与性能联系起来.
- 场效应晶体管 (FET) 是现代电子产品中至关重要的组件,需要精确的表征.
研究的目的:
- 展示一个低成本的,自动化测试站,用于FET的封闭式电子运输测量.
- 为了实现制造参数和设备性能之间的快速相关性.
主要方法:
- 使用开源PyMeasure库进行仪表控制的"ATLAS-MAP"系统的开发.
- 实施转移曲线和范德保夫测量方法,使用静态和横扫门电压.
- 用于验证的不同厚度和通道尺寸的氧化 (ZnO) 晶体管的制造.
主要成果:
- 使用ZnO晶体管成功验证了ATLAS-MAP系统.
- 通过标准化测试程序和数据格式化展示自动化数据分析.
- 提供详细的零件清单和系统复制代码.
结论:
- 亚特拉斯-MAP系统为自动化FET表征提供了一个具有成本效益和可定制的解决方案.
- 这种自动化方法加速了电子材料的设计-制造-测试周期.
- 开源性质促进了电子设备测试的可访问性和进一步发展.
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