,

Isabel Droste1, Erik Schuitema2, Sajjad Khan3

  • 1Department of Imaging Physics, Delft University of Technology, Delft, The Netherlands.

概括

这项研究引入了一种新的方法来纠正单分子局部化显微镜 (SMLM) 中的图像扭曲. 该技术通过直接从成像数据中估计和纠正取决于场的偏差来提高定位的准确性.