在红粉中使用短波红外和XGBoost算法进行冷却损伤的非破坏性评估
Jong-Jin Park1, Jeong-Seok Cho2, Hahyeong Yu3
1Food Safety and Distribution Research Group, Korea Food Research Institute, Wanju-gun 55365, Republic of Korea.
Food chemistry
|December 25, 2024
概括
冷却伤害显著降低红胡粉质量,增加苦味和微生物负载. 超光谱成像可以有效地检测到胡粉中的这种损伤,从而能够快速评估质量.
科学领域:
- 食品科学与技术 食品科学与技术
- 农产品质量评估 农产品质量评估
- 光谱学和成像技术
背景情况:
- 胡果的冷却损伤导致衍生胡粉的质量明显恶化.
- 传统的质量评估方法不足以检测胡粉中的冷却损伤.
研究的目的:
- 为了评估冷却损伤对红胡粉质量的影响.
- 开发一种非破坏性的方法来检测胡粉中的冷却损伤.
主要方法:
- 分析受冷伤影响的胡粉中的化学和微生物变化.
- 超光谱成像的应用用于检测冷却伤害.
- 开发和验证XGBoost模型,使用所选波长进行分类.
主要成果:
- 冷伤害增加了苦氨基酸,微生物数量和生物氨基酸,同时降低了甜味和有机酸.
- 颜色值不足以识别冷伤害.
- 基于高光谱成像的XGBoost模型在区分冷却损伤水平方面实现了100%的准确性,超过了全波长分析 (98.0%).
结论:
- 超光谱成像是一种可行的工具,用于快速和非破坏性的胡粉质量评估.
- 开发的XGBoost模型有效地识别了胡粉中的冷却损伤,确保了产品的质量和安全.
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